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詳細(xì)介紹
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
憑借高速樣品傳輸系統(tǒng)、高速數(shù)據(jù)處理以及強(qiáng)大而穩(wěn)定的X射線,可以比掃描型設(shè)備在更短的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行更高精度的測(cè)量。
最多可測(cè)量 40 個(gè)元素(標(biāo)準(zhǔn)配置為 30 個(gè))。測(cè)量范圍從Be到U。
這是第一臺(tái)將雙曲晶體整合到固定光譜儀中的同步熒光X射線光譜儀,比傳統(tǒng)的單曲晶體具有更高的靈敏度。
新開發(fā)的人工累積膜“RX85"在Be(鈹)和B(硼)分析方面,與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比,靈敏度提高了30%。
配備衍射通道,可以用一臺(tái)裝置進(jìn)行使用X射線熒光和X射線衍射的定量分析??蓪?duì)燒結(jié)礦中的 FeO(氧化鐵)和水泥熟料中的游離石灰 (f.CaO) 進(jìn)行定量分析。
我們采用了高度可靠的真空系統(tǒng),具有穩(wěn)定輕元素分析的真空度穩(wěn)定機(jī)構(gòu)和防止粉末樣品飛散的真空速度切換機(jī)構(gòu)。
可配備自動(dòng)樣品交換器(ASC48)。此外,通過連接全自動(dòng)玻璃珠制造設(shè)備和自動(dòng)壓力成型機(jī)等樣品預(yù)處理設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。
它可以配備可以從O(氧)測(cè)量U(鈾)的重元素和輕元素掃描測(cè)角儀,或者可以從Ti(鈦)測(cè)量U(鈾)的重元素掃描測(cè)角儀。對(duì)于不常分析的元素的定性分析、半定量分析和定量分析非常有效。
?合金化熱浸鋅(GA)鍍層中的Fe含量分析
?鈦酸鋇的高精度摩爾比分析
?水泥熟料中游離石灰的定量分析
?燒結(jié)礦中FeO的定量分析
?鐵礦石的定量分析
產(chǎn)品名稱 | Simultix15 | |
---|---|---|
方法 | 波長色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
目的 | 固體、粉末和合金的高通量元素分析 | |
技術(shù) | 同步波長色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
主要部件 | 3/4kW端窗式X射線管、自動(dòng)真空控制機(jī)構(gòu)(APC)、“數(shù)字多通道分析儀(D-MCA)" | |
選項(xiàng) | XRD 通道、掃描測(cè)角儀、自動(dòng)進(jìn)樣器 | |
控制(電腦) | 外部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng)、Simultix 軟件 | |
機(jī)身尺寸 | 880(寬)×1700(高)×1300(深)mm | |
體重(身體) | 約700公斤 | |
電源 | 三相 200 VAC 50/60 Hz,40 A |
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