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詳細介紹
半導體設備日本理學Rigaku熒光射線分析儀
半導體設備日本理學Rigaku熒光射線分析儀
由于X射線從樣品上方照射,即使粉末顆粒從樣品中散射,光學系統(tǒng)也不會受到影響。不需要薄膜來防止樣品掉落。 ZSX Primus III NEXT進一步抑制了灰塵流入設備內(nèi)部。
如果在測量分析樣品時操作系統(tǒng)出現(xiàn)故障,分析儀配備了保護功能,可防止分析樣品無意中長時間留在測量設備中,導致設備和樣品損壞。
可以為每個操作員設置軟件的訪問級別。這可以防止由于操作錯誤而導致數(shù)據(jù)庫更改或刪除。
通過在X射線計數(shù)系統(tǒng)中安裝數(shù)字多通道分析儀(D-MCA:1024通道規(guī)格),我們通過高速數(shù)字處理實現(xiàn)了高達高計數(shù)率范圍的計數(shù)線性。通過高速數(shù)據(jù)處理和各驅動單元的高效控制,與傳統(tǒng)設備相比,定量分析的吞吐量提高了21%。
還可以安裝環(huán)保型輕元素氣體保護正比計數(shù)器(S-PC LE)。由于檢測器不需要供氣,因此即使在難以獲得或安裝高壓氣體的地方也可以安裝該裝置(可選)。
除了減少冷卻水量和PR氣體流量外,還具有在不進行分析時自動降低X射線輸出的節(jié)能操作功能以及自動斷電功能。
我們加強了對經(jīng)過驗證的ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi軟件<ZSX Guidance>的常規(guī)分析,并充分利用D-MCA數(shù)據(jù)來提高準確性。另外,獲得的定量分析結果的誤差可以以標準差的形式顯示,可以有效地評價分析值的可靠性。
調(diào)度程序功能可簡化日常分析管理(自動啟動+自動漂移校正功能),大大減少分析工作前準備工作所需的人力。
與旗艦機 ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi 兼容的行業(yè)特定應用程序包也可以與該設備 ZSX Primus III NEXT 一起使用。
通過與頂照式ZSX PrimusIV、ZSX Primus III NEXT和底照式ZSX Primus IVi創(chuàng)建通用的硬件和軟件平臺,可以在三個型號和同一型號之間輕松共享應用程序。
產(chǎn)品名稱 | ZSX Primus III NEXT | |
---|---|---|
方法 | 波長色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
目的 | 固體、粉末、合金和薄膜的元素分析 | |
技術 | 掃描波長色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
主要部件 | 3kW封閉式X射線管,10晶體自動交換器 | |
選項 | 48 個樣品自動進樣器(托盤) 輕元素氣體保護正比計數(shù)器 (S-PC LE) | |
控制(電腦) | 外部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng)、ZSX 指導 | |
機身尺寸 | 1310(寬)×1508(高)×890(深)毫米 | |
質量(主體) | 約620公斤 | |
電源 | 設備:3相,200V,40A 計算機:100V,10A |
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