當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > Rigaku理學(xué) > 半導(dǎo)體測量設(shè)備 > XTRAIA XD-3200玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度
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詳細(xì)介紹
玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度
玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度
XTRAIA XD-3200 是一款多功能 射線計量工具,可在大批量生產(chǎn)中以高通量對毯式和圖案化 300 mm 和 200 mm 晶圓上的單層和多層薄膜進(jìn)行無損分析。
測量結(jié)果包括通過 射線反射率 (XRR) 測量的膜厚度、密度和粗糙度,以及通過高分辨率 XRD (HRXRD) 測量的外延膜厚度、成分、應(yīng)變、晶格弛豫和結(jié)晶度。
晶體管(SiGe)、LED/LD(GaN、GaAs、InP)、MEMS/傳感器(PZT、AlN)、新型存儲器(GST)、金屬膜、多層膜
這種*的 射線計量工具能夠在大批量生產(chǎn)中對 300 毫米(和 200 毫米)無層晶圓(從超薄單層到多層堆疊)進(jìn)行高速測量。
XTRAIA 的性能歸功于
XTRAIA XD-3200 提供:
使用 射線反射率 (XRR) 評估所有類型的單層和多層薄膜(非晶、多晶、外延)的厚度、密度和粗糙度。
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