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詳細(xì)介紹
HITACHI日立掃描電子顯微鏡 維翰光電
HITACHI日立掃描電子顯微鏡 維翰光電
FlexSEM 1000 II,憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器,可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面,具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外,還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP",這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn),實(shí)現(xiàn)最直觀的視野移動(dòng)。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)最高的畫質(zhì)
全新的用戶界面,無論用戶的熟練程度如何,都可實(shí)現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP",支持觀察時(shí)的視野搜索和樣品定位
*1設(shè)置到桌面上時(shí),請(qǐng)將機(jī)體與電源盒分離
*2選項(xiàng)
尺寸雖小,卻具備同類產(chǎn)品中最高的分辨率。
金顆粒沉積
金顆粒沉積
配備可優(yōu)化放射電流的功能,以便在較低的加速電壓下也能獲得足夠的亮度,而獲得噪點(diǎn)小且清晰的圖像。
儲(chǔ)氫合金
Al-Ni復(fù)合材料
搭載GUI和自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,讓初學(xué)者也能得心應(yīng)手。只要按一下自動(dòng)對(duì)焦(AFC)、自動(dòng)亮度調(diào)節(jié)(ABCC)按鈕,就可以獲得最佳的圖像。(自動(dòng)調(diào)節(jié):與以往相比,縮短時(shí)間約13秒*3)當(dāng)然,也可以通過觸屏進(jìn)行操作。
*3對(duì)比日立SEM SU1510
“SEM MAP"功能可有效實(shí)現(xiàn)觀察時(shí)的視野搜索和樣品定位。根據(jù)內(nèi)置攝像頭所拍攝的圖像,定位樣品,一鍵點(diǎn)擊即可移動(dòng)到觀察部位。
在SEM MAP上導(dǎo)入的圖像會(huì)自動(dòng)進(jìn)行粘貼,并以分布圖的形式顯示。
寬幅僅為45厘米,緊湊型設(shè)計(jì),程度地減小占用空間。機(jī)體僅支持AC100 V 3P電源插座。此外,機(jī)體和電源盒可以分離,從而大幅度提升諸如桌面設(shè)置等的布局靈活性。
FlexSEM 1000 II
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