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實現(xiàn)極弱近紅外區(qū)域測量光譜輻射計SR-NIR

更新時間:2025-02-17      點擊次數(shù):111

關(guān)于此產(chǎn)品

概述

近年來,“近紅外區(qū)域"測量的需求不斷增加,尤其是在顯示器和照明市場。此外,沒有測量儀器可以輕松且高精度地測量這一點。鑒于這種情況,我們基于SR系列光譜輻射計所積累的技術(shù),開發(fā)了“SR-NIR近紅外光譜輻射計"。該產(chǎn)品與SR系列光譜輻射計配合使用,可以測量380nm至1030nm的光譜輻射度。

■ 特點

- 可測量FPD發(fā)射的微弱近紅外光- 實現(xiàn)近紅外區(qū)域(600 至 1,030 nm)光譜分布的高精度測量?與本公司的SR系列光譜輻射計組合使用時,可以測量從可見光到近紅外(380至1030nm)的光譜分布。

主要應(yīng)用

?觀察各種FPD的近紅外輸出?Ne、Ar發(fā)射線輸出觀察- 光學(xué)薄膜的近紅外透射特性評價等。- 其他光源的近紅外光譜測量


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